兩用測厚儀DualScope FMP20

兩用測厚儀DualScope FMP20

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DualScope FMP20涂鍍層測厚儀享譽的手提式儀器和插拔式探頭的新一代產品問世了，可以用來無損、高精度測量涂鍍層厚度。從我們的新產品系列中選擇一款含智慧型探頭的涂鍍層測厚儀可以滿足您特定的測量需求。 新一代手提式儀器FMP20配上種類繁多的插拔式探頭提供的測量。除了用戶只能創建一個應用程式外，這些儀器操作簡單、堅固耐用，幾乎適合每一種涂鍍層的測厚要求，這些應用包括廣泛的噴涂工件和特殊的復雜涂層。

DualScope FMP20工作原理：

磁感應測量原理

采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）?，F代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。

電渦流測量原理

高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

兩用測厚儀DualScope FMP20

便攜式測量儀器具有集成或可互換的探頭，用于直接在工件上測量涂層厚度。

DualScope FMP20

雙功能FMP20 該通用型號為磁感應和渦流方式提供自動的基板材料識別功能。 這兩個單元都能夠測量鐵/鋼，非鐵磁金屬和非導電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP20型號的附加功能包括多達20,000個讀數的擴展內存，多達100個可校準應用程序，塊的日期和時間戳，帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動基材識別功能。

•外部按鍵觸發測量采集
•超過公差限制時的視覺和視覺警告
•選項藍牙或COM附加可用于默認USB接口
測量應用記憶體： -
•多達100個測量應用的應用存儲器，包括 校準
•內存多達20,000張讀數
•將讀數分配到4,000個塊
•塊的日期和時間戳
•測量應用的通用歸一化/校準
•通過標準測試測量驗證校正校準

兩用測厚儀DualScope FMP20